測角儀可移動，可以測更大度數的2Θ角

對到晶格空間進行放大探測

采用雙光束，有很大的靈活性

• 在IPDS II 的基礎上進行拓展，可測2θ角最大值137°；

• 適用于銅反射和電子密度測量；

• 軟件可用于數據收集和計算；

•即使是比較復雜的樣品（多域調制晶體），也能夠提供有效的分析結論

• 支持DACs

尺寸：1680 x 880 x 2110mm；雙儀器結構：2050 x 1260 x 2110mm

重量：420 kg；  雙儀器結構：600kg

最大2θ =137°

測角儀：ω：180°，φ：360°

       2θ：0°，5°，30°，45°，60°

探測器間距：40 - 200 mm (自動設定值)

最小d/Å：0.30 Ag KA， 0.38 Mo KA，0.83 Cu KA

X射線源：密封管： Ag, Mo, Cu

              微焦點源： Ag, Mo, Cu

成像板尺寸(活動區)：340mm

噪音：因為無暗流，因此噪音很低

 

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